<th id="jfamq"><pre id="jfamq"><sup id="jfamq"></sup></pre></th>
<em id="jfamq"></em><u id="jfamq"></u>
<th id="jfamq"></th>

<rp id="jfamq"></rp><th id="jfamq"></th>

<button id="jfamq"><object id="jfamq"></object></button>
<rp id="jfamq"><object id="jfamq"><input id="jfamq"></input></object></rp>

  • <s id="jfamq"></s>
    <tbody id="jfamq"></tbody>
    1. <progress id="jfamq"><track id="jfamq"><video id="jfamq"></video></track></progress>

      服务热线:0731-84284278 传真:84284378
      当前位置: 主页>解决方案>

      中茂 Chroma 光学元件测试解决方案

      时间:2015-08-12 16:53来源:未知 作者:王必良 点击:
      中茂 Chroma 光学元件测试解决方案含有多通道且高精准度的激光二极管烧机测试系统,其中独立的SMU电流-电压源与温度控制可以符合发光二极管、镭射二极管、光电侦测器与其它半导体使用。中茂 Chroma 光学元件测试解决方案还含有激光半导体特性测试机、封装外观检测系
             中茂 Chroma 光学元件测试解决方案含有多通道且高精准度的激光二极管烧机测试系统,其中独立的SMU电流-电压源与温度控制可以符合发光二极管、镭射二极管、光电侦测器与其它半导体使用。中茂 Chroma 光学元件测试解决方案还含有激光半导体特性测试机、封装外观检测系统以及晶圆检测系统,以下是长沙艾克赛普仪器设备有限公司为您介绍中茂 Chroma PXI 量测解决方案的系列产品,如果您有任何问题或者需要相关资料,请随时联系:0731-84284278转801,邮箱:shawn.xiao@hncsw.net。
      中茂 Chroma 光学元件测试解决方案 图片
      边射型激光半导体
      • Model 58601 烧机测试系统
      • Laser Diode Burn-In Test System
      • 适用于光电激光半导体 CoC/CoS/Edge Emission 等种类雷射烧机测试
      • Model 58620 激光半导体特性测试机
      • Laser Diode Characterization System
      自动光学检测系统
      • Model 7925 TO-CAN 封装外观检测系
      • Automatic inspection system for TO-CAN package.
      • It can inspect lens scratch, crack, particle and metal cap defect of TO-CAN package
      • Auto focus function can overcome height variation from tray or package
      • Defect criteria editor for versatile pass/fail criteria setting
      • Model 7935 晶圆检测系统
      • 应用于8吋以下晶粒外观检查。
      • 最大可检测8”晶圆 (检测区域达10“范围 )
      • 适合LED, 雷射二极体及影像感测器等产业
      • 影像辨识成功率高达98%
      • 可结合上游测试机晶粒资料,合并后上传至下一道制程设备

      (责任编辑:admin)
      发布者资料
      王必良 查看详细资料 发送留言 加为好友 用户等级:注册会员 注册时间:1970-01-01 08:01 最后登录:2016-03-29 17:03
      推荐产品
      金苹果平台